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探討一下光譜分析儀總體的發(fā)展趨勢
光譜分析儀由一個(gè)入射狹縫，一個(gè)色散系統(tǒng)，一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。在光譜的測量、各參考點(diǎn)通路信號光功率、各參考點(diǎn)光信噪比、光放大器各個(gè)波長的增益系數(shù)和增益平坦度的測試都可以使用光譜分析儀。現(xiàn)在也集成了WDM的分析軟件，可以很方便地把WDM的各個(gè)波長的中心頻率、功率、光信噪比等參數(shù)用菜單的方式顯示出來。總體發(fā)展趨勢是測量精度更高、測量范圍更大、體積更小、智能化程度更高、使用更方便。
光譜分析儀的性能特點(diǎn)都有哪些呢？
1、采用全新激發(fā)電路，無論是高頻火花還是直流電弧模式測試結(jié)果均具有出色的精密度和準(zhǔn)確度。
2、功能強(qiáng)大，三種分析模式可選：快速材料分選、牌號鑒定以及X定量分析。
3、X化的電源管理模式，強(qiáng)大的內(nèi)置電池可提供24V的電壓輸出，無外接電源場所也可提供儀器工作數(shù)天所需電力。連接外接電源時(shí)，電池則自動(dòng)切換到充電模式。
4、采用12.1英寸觸摸屏操作，根據(jù)使用需要，可方便調(diào)節(jié)觸摸屏角度。
5、模塊化設(shè)計(jì)，主機(jī)部件體積小、重量輕、可拆卸，輕松面對一般光譜儀難以到達(dá)之場所。
6、多CCD檢測系統(tǒng)，高達(dá)30，000條光路通道，滿足所有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)牌號鑒定及化學(xué)元素檢測所需。在紫外激發(fā)槍的幫助下，還可進(jìn)一步檢測P、S等紫外元素。
7、光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)校正，無須人工操作，且校正過程后臺(tái)自動(dòng)運(yùn)行，不影響正常操作，該光譜儀無須預(yù)熱，即開即用。
8、采用X特的噴射電極技術(shù)，適應(yīng)各種復(fù)雜形狀樣品，即使面對細(xì)如1mm的線材也可在無任何夾具的情況下準(zhǔn)確測定。
9、HPC高性能光導(dǎo)纖維，無飽和效應(yīng)，無信號衰減，具有X異的傳輸性和穩(wěn)定性，可以X地測定痕量C及其它元素。